С 22 по 25 мая на базе НовГУ пройдет Третий международный семинар «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)».

Пока нет комментариев. Вы можете оставить первый.

Чтобы добавить комментарий, необходимо войти под своим логином.

Републикация текстов, фотографий и другой информации разрешена только с письменного разрешения авторов.

Настоящий ресурс может содержать материалы 16+.